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期刊文章详细信息

氩离子抛光-场发射扫描电镜分析方法在识别有机显微组分中的应用    

Ar-ion polishing FE-SEM analysis of organic maceral identification

  

文献类型:期刊文章

作  者:高凤琳[1,2] 王成锡[1] 宋岩[2,3] 陈振宏[3] 刘庆新[4] 李卓[2] 姜振学[2] 张欣欣[5]

GAO Fenglin;WANG Chengxi;SONG Yan;CHEN Zhenhong;LIU Qingxin;LI Zhuo;JIANG Zhenxue;ZHANG Xinxin(Development and Research Center,China Geological Survey,Beijing 100037,China;State Key Laboratory of Petroleum Resources and Prospecting,China University of Petroleum,Beijing 102249,China;Research Institute of Petroleum Exploration&Development,PetroChina,Beijing 100083,China;Institute of Unconventional Oil&Gas,Northeast Petroleum University,Daqing,Heilongjiang 163318,China;Institute of Geology and Geophysics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100029,China)

机构地区:[1]中国地质调查局发展研究中心,北京100037 [2]中国石油大学(北京)油气资源与探测国家重点实验室,北京102249 [3]中国石油勘探开发研究院,北京100083 [4]东北石油大学非常规油气研究院,黑龙江大庆163318 [5]中国科学院地质与地球物理研究所,北京100029

出  处:《石油实验地质》

基  金:中国地质调查局项目“地学信息产品开发与社会化服务”(DD20190405);国家科技重大专项(2016ZX05034001-005)联合资助。

年  份:2021

卷  号:43

期  号:2

起止页码:360-367

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2020、CAS、CSCD、CSCD2021_2022、GEOBASE、JST、PA、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:氩离子抛光—场发射扫描电镜是页岩储层微观孔隙结构表征的常用手段,但单独依靠扫描电镜观察无法直接识别有机质类型,而荧光显微镜是鉴定显微组分的主要方法。通过大量场发射扫描电镜与荧光显微镜相结合的定位观察技术,实现对扫描电镜下特定显微组分的鉴定和观察,并总结出扫描电镜下有机显微组分鉴定的方法和特征。氩离子抛光—场发射扫描电镜下,可通过有机质的外部形态、硬度、亮度、颜色、突起、有机质孔隙发育特征以及裂隙发育特征等综合判断出结构镜质体、无结构镜质体、镜屑体、丝质体、半丝质体、菌类分泌体、惰屑体、油沥青以及焦沥青。

关 键 词:氩离子抛光  场发射扫描电镜  有机显微组分

分 类 号:TE135]

参考文献:

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同被引文献:

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