文献类型：期刊文章

作　　者：鲁旭臣[1] 李爽[1] 唐佳能[1] 毕海涛[1] 王亮[2] 钟雪[3]

LU Xuchen;LI Shuang;TANG Jianeng;BI Haitao;WANG Liang;ZHONG Xue(State Grid Liaoning Electric Power Research Institute,Shenyang 110006,China;Shenyang Institute of Engineering,Shenyang 110136,China;State Grid Liaoning Electric Power Co.,Ltd.Material Branch,Shenyang 110004,China)

机构地区：[1]国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院,沈阳110006 [2]沈阳工程学院,沈阳110136 [3]国网辽宁省电力有限公司物资分公司,沈阳110004

出　　处：《高压电器》

年　　份：2021

卷　　号：57

期　　号：11

起止页码：220-226

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2020、CAS、CSCD、CSCD2021_2022、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为了明确GIS内部过热缺陷的暂态过程及红外成像诊断方法,文中在试验室搭建了550 kV GIS母线触头过热缺陷模型,分别设置了不同的接触不良情况,在不同的电流下,得到了故障点温度及外壳的温度分布情况,并与接触良好情况的隔离开关及其分支母线气室进行了对比。同时,采用有限元方法,计算了试验室无法开展的其他试验工况。研究结果表明:只要外壳局部温度高于环境温度,通过红外成像仪就可以清晰地观测到;接触电阻、负荷电流和环境温度对故障点外壳的温升影响较大,盆式绝缘子类型对故障点外壳温升无影响;起初,接触电阻与其产生的局部高温是一个线性的交互过程,当温度接近导体熔点时,从导通到最终熔化经历的时间很短,这一瞬态过程不能通过带电检测发现。

关 键 词：GIS 触头发热 温度场 红外 外壳顶部  

分 类 号：TM595]