文献类型：期刊文章

作　　者：陈恒江[1] 仲海东[1] 彭佳丽[1]

CHEN Hengjiang;ZHONG Haidong;PENG Jiali(Wuxi I-Core Electronics Co.,Ltd.,Wuxi 214072,China)

机构地区：[1]无锡中微爱芯电子有限公司,江苏无锡214072

出　　处：《电子与封装》

年　　份：2022

卷　　号：22

期　　号：3

起止页码：23-29

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：MCU内部集成的AD模块普遍应用于各类方案中,AD静态参数中的INL、DNL是评测AD性能的重要指标。使用专业仪器测试INL、DNL参数成本过高,因此用户对经济实惠且测试精准的专用测试台的需求日益显著。提供了一个低成本的AD静态参数自动测试系统设计方案,先阐述测试系统的基本实现原理,然后从硬件系统和软件系统两个部分详细介绍。实际使用证明,该测试系统适用于MCU AD模块的INL、DNL参数测试,工作稳定,测试精准,且成本低廉。

关 键 词：STM32F429  AD静态参数  自动测试系统

分 类 号：TN409]