文献类型：期刊文章

作　　者：卢明[1] 伍川[1] 盛从兵[2] 江渺[3] 高超[1] 李黎[3]

LU Ming;WU Chuan;SHENG Congbing;JIANG Miao;GAO Chao;LI Li(State Grid Henan Electric Power Research Institute,Zhengzhou 450052,China;Puyang Power Supply Bureau,HenanElectric Power Corporation,Puyang 457000,China;School of Electrical and Electronic Engineering,Huazhong University of Science&Technology,Wuhan 430074,China)

机构地区：[1]国网河南省电力公司电力科学研究院,郑州450052 [2]国网河南省电力公司濮阳供电公司,河南濮阳457000 [3]华中科技大学电气与电子工程学院,武汉430074

出　　处：《电瓷避雷器》

基　　金：中原科技创新领军人才资助项目(编号:194200510024)。

年　　份：2022

期　　号：1

起止页码：157-164

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2020、CAS、IC、RCCSE、核心刊

摘　　要：复合绝缘子酥朽断裂和内击穿属于两类严重影响电力系统稳定运行的恶性事故。在对多起酥朽断裂和内击穿事故案例分析过程中,发现二者的故障形貌表现出诸多相似性,进而推测二者存在某种内在关联性。通过对比分析复合绝缘子酥朽断裂和内击穿事故的故障特征、故障机理及发展过程,本文指出,复合绝缘子酥朽断裂和内击穿事故具有相同的故障本质,即由芯棒与护套界面缺陷诱发的芯棒酥朽老化现象。酥朽老化发展过程同时损害绝缘子的电气性能与机械性能,而最终发展为电气事故(内击穿)或机械事故(酥朽断裂)取决于绝缘子最小干弧距离与芯棒直径之比。实际案例统计数据表明,内击穿多发于110 kV、220 kV线路复合绝缘子,而酥朽断裂目前仅见于500 kV复合绝缘子,这一规律与本研究理论推导结论相符,验证了本研究所提理论的合理性。

关 键 词：复合绝缘子 酥朽断裂  内击穿  界面缺陷  酥朽老化  

分 类 号：TM216[材料类]