文献类型：期刊文章

作　　者：孙宇凯[1] 刘鹏[1] 王君从[1] 王尧[1]

SUN Yu-kai;LIU Peng;WANG Jun-cong;WANG Yao(Hebei Branch of Zhonghua Communication System Co.,LTD)

机构地区：[1]中华通信系统有限责任公司河北分公司

出　　处：《中国集成电路》

年　　份：2022

卷　　号：31

期　　号：6

起止页码：85-89

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：随着科学技术的快速发展,经济社会已进入大数据时代,集成电路都朝着高速高精度方向发展,进而对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求。使用分立的设备测试电路,操作复杂,测试时间长,显然已经不能满足当前的测试需求。自动测试设备(Automatic Test Equipment,简称ATE)可同时提供数字、模拟和射频测试资源,有广泛的硬件和软件支持,在集成电路测试方面具有很大的优势。本文系统的介绍了ATE的时间测量单位(TMU)和参数扫描两种测试方法的原理,对比了两种测试方法的优缺点,并使用这两种方法对时钟电路的电参数进行了测试,对测试结果进行了简单对比。

关 键 词：ATE TMU  参数扫描  

分 类 号：TN402]