文献类型：期刊文章

作　　者：张文文[1] 唐映强[1]

Zhang Wenwen;Tang Yingqiang(Wuxi i-CORE Electronics Co.,Ltd.,Wuxi 214072,China)

机构地区：[1]无锡中微爱芯电子有限公司,江苏无锡214072

出　　处：《电子技术应用》

年　　份：2022

卷　　号：48

期　　号：9

起止页码：59-62

语　　种：中文

收录情况：DOAJ、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：为了缩短MCU芯片开发周期,提出了一种基于MCU芯片FPGA原型验证平台设计。该设计是将传统FPGA原型验证过程中使用FPGA的RAM原型替换程序存储单元,改为使用FPGA双端口RAM替换。其中一个端口控制按照传统的接入方法,另一端口控制信号接到专门的控制逻辑上,独立控制,而且不影响原MCU芯片功能。该方法不仅节省多次FPGA综合实现的时间,而且可以灵活实时监测RAM,方便查错。同时该方法具有通用性,可移植到类似的SoC系统架构FPGA原型验证系统中去。

关 键 词：MCU芯片  FPGA原型  验证平台  双端RAM 可复用

分 类 号：TP368.1]