文献类型：期刊文章

作　　者：王宾[1] 刘毅[2] 左芳[3] 陈莉莉[4] 杨云霞[5] 郭倩[5] 温锦荣[2] 门靖[2]

Wang Bin;Liu Yi;Zuo Fang;Chen Lili;Yang Yunxia;Guo Qian;Wen Jinrong;Men Jing(Xi'an Samsung China Semiconductor Co.,Ltd.,Xi'an,Shaanxi 710119,China;Xi'an WanLong Pharmaceutical Co.,Ltd.,Xi'an,Shaanxi 710119,China;Xi'an Beilin District New Oriental Training Center,Xi'an,Shaanxi 710068,China;Shaanxi Dahe Pharmaceutical Co.,Ltd.,Xi'an,Shaanxi 710200,China;Xianyang Branch of Shaanxi Province Drug and Vaccine Inspection Center,Xiangyang,Shaanxi 712000,China)

机构地区：[1]三星(中国)半导体有限公司,陕西西安710119 [2]西安万隆制药股份有限公司,陕西西安710119 [3]西安市碑林区新东方培训中心,陕西西安710068 [4]陕西大河药业有限责任公司,陕西西安710200 [5]陕西省药品和疫苗检查中心咸阳分中心,陕西咸阳712000

出　　处：《化工与医药工程》

年　　份：2024

卷　　号：45

期　　号：1

起止页码：76-81

语　　种：中文

收录情况：CAS、普通刊

摘　　要：电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)是一种基于电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)和质谱法(MS)的综合性分析检测技术,拥有较低检出限、高灵敏度、分析速度快、可同时检测多种金属元素等优势,在工业样品金属元素检测方面具有广阔的应用前景。文章对近年来ICP-MS在工业领域的金属元素分析检测相关文献进行梳理,报道了其在合金、半导体、矿石、水资源、食品、日化品以及药品等方面较为新颖的研究成果,为工业领域中金属元素杂质检测方法的开发提供借鉴。

关 键 词：电感耦合等离子体质谱法 金属元素 检测  应用研究  工业领域  半导体

分 类 号：TQ463[化工与制药类]