文献类型：期刊文章

作　　者：马光祖[1] 赵宗玲[1] 梁国立[1]

机构地区：[1]地质部岩矿测试技术研究所

出　　处：《光谱学与光谱分析》

年　　份：1982

卷　　号：6

期　　号：Z2

起止页码：281-287

语　　种：中文

收录情况：AJ、CAS、EI、IC、INSPEC、JST、PUBMED、RCCSE、RSC、SCIE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、普通刊

摘　　要：1959年我国从苏联引进照相记录式X光谱仪,发射与荧光两用X光谱仪,同时也引进了philips公司的X荧光光谱仪。1961年以后,不少单位相继进口了各种类型的X荧光光谱仪,据不完全统计,现在波长色散X荧光光谱仪就有100多台,由于电子计算机技术的发展,使X荧光光谱分析的应用范围不断扩大,我国X荧光光谱分析工作者在X荧光光谱分析的应用,仪器制造与书籍的编写、翻译等方面都作了大量的工作,目前在我国冶金、地质、建材。

关 键 词：荧光光谱分析 基础理论  数学校正  痕量元素 荧光分析 微量元素 荧光光谱仪 基体效应  

分 类 号：G6[教育学类]