文献类型：期刊文章

作　　者：聂建华[1] 冯则坤[1] 谭福清[2] 何华辉[1]

机构地区：[1]华中科技大学电子科学与技术系 [2]江门市粉末冶金厂有限公司

出　　处：《华中科技大学学报（自然科学版）》

年　　份：2003

卷　　号：31

期　　号：6

起止页码：23-25

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、MR、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊

摘　　要：研究了添加纳米SiO2 对MnZn功率铁氧体材料磁性能的影响 ,并用AES和SEM对功率铁氧体材料的微结构和晶界进行了研究 ,结果表明晶界电阻率和功率损耗依赖于纳米SiO2 加入量 ,加入的纳米SiO2 量有一个最佳值 .加入适量的纳米SiO2 有助于降低MnZn功率铁氧体的功率损耗 ,其原因在于Si原子阻止了Nb原子和Ca原子进入铁氧体材料的晶格 ,与Nb原子和Ca原子一起富集到铁氧体材料的晶界处 ,形成具有高电阻率的晶界层 。

关 键 词：纳米Si02  功率铁氧体 晶界 微结构

分 类 号：TM277[材料类]